روش فلورسانس پرتوی ایکس یا XRFیا طیف سنجی پرتوی ایکس یکی از روشهای آنالیز عنصری است که امروزه از آن به طور وسیعی در صنعت و مراکز پژوهشی استفاده می شود. این روش، به ویژه به خاطر سرعت زیاد در شناسایی عنصری، برای برخی از صنایع ضروری است. طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، وسیله ای مستقل برای آنالیز محتوای عنصری است. این طیف سنج از تابش پرتوی ایکس برای تحریک انتشار پرتوهای ایکس مشخصه از اتم های نمونه استفاده می کند. عبارت فلورسانس برای ایجاد تمایز بین پرتوی ایکس ثانویه ساطع شده از اتم های نمونه و پرتوهای ایکس اولیه که به نمونه تابیده، استفاده میشود.
تعداد مشاهده: 1432 مشاهده
کد فایل:16441
انتشار در:۱۴۰۰/۱۱/۲۵
حجم فایل ها:862.8 کیلوبایت
تعداد صفحات: 17
زبان: فارسی
فرمت: (PDF) غیر قابل ویرایش
فهرست: دارد
منابع و مآخذ: دارد
جدول و نمودار: دارد
عکس و تصویر: دارد
محتوای فایل: PDF
تحقیق بررسی اثر پارامترهای جوشکاری بر استحکام جوش پلی پروپیلن
قیمت : 40,000 تومان
توضیحات بیشتر دریافت فایل
روش تحلیل شبکه ای ANP
قیمت : 15,000 تومان
بررسی خواص ساختاری، الکتریکی و حرارتی سرمت ها
تحقیق در مورد میکروسکوپ فلورسنس و کانفوکال
تحقیق در مورد سنتز و خواص نانوکامپوزیتهای نقره و پلی وینیل الکل
تحقیق در مورد گرافن و پوشش های گرافن
تحقیق در مورد تست مه نمکی یا پاشش نمک (سالت اسپری)
قیمت : 34,000 تومان
تحقیق در مورد ممانعت کننده های خوردگی فولاد در بتن
تحقیق در مورد آنالیز مواد به روش EBSD (روش تحلیلی پراش الکترون های بازگشتی)
قیمت : 59,000 تومان
تحقیق در مورد میکروسکوپ تونلی روبشی
قیمت : 30,000 تومان
تحقیق در مورد لنزهای الکترواستاتیک و الکترومگنتیک
قیمت : 39,000 تومان
تحقیق در مورد لامپ خلا و دیود شاتکی